De-Embedding的参数

这个例子向您展示了如何提取被测设备(DUT)的s参数。首先，将Touchstone®文件读入sparameters对象，第二，计算左和右垫的s参数，第三，使用deembedsparams函数，最后显示结果。

本例使用文件中的s参数数据samplebjt2.s2p从一个双极晶体管的夹具中收集，其中一个键合丝(串联电感为1 nH)连接到输入端的键合焊垫(并联电容为100 fF)，一个键合焊垫(并联电容为100 fF)连接到输出端的键合丝(串联电感为1 nH)，见图1。

图1:被测设备(DUT)和测试夹具。

这个例子还将展示如何删除夹具的影响，以提取DUT的s参数。

阅读量的参数

创建一个sparameters通过读取Touchstone®数据文件，samplebjt2.s2p．

S_measuredBJT = sparameters (“samplebjt2.s2p”）;频率= S_measuredBJT.Frequencies;

计算左Pad的s参数

创建两个端口电路对象，表示左侧垫，包含一个序列电感器和一个并联电容器．然后计算s参数使用频率从samplebjt2.s2p．

leftpad =电路(“左”）;添加(leftpad[1 - 2],电感器(1 e-9);添加(leftpad[2 3],电容器(100 e15汽油));setports (leftpad 3 [1], [2 3]);S_leftpad = sparameters (leftpad、频率);

计算右Pad的s参数

创建两个端口电路对象，表示右垫，包含一个序列电感器和分流电容器．然后，计算s参数使用频率从samplebjt2.s2p．

rightpad =电路(“对”）;add (rightpad, 3[1],电容器(100 e15汽油));添加(rightpad[1 - 2],电感器(1 e-9);setports (rightpad 3 [1], [2 3]);S_rightpad = sparameters (rightpad、频率);

De-Embed的参数

通过去除输入和输出垫的影响(deembedsparams）.

S_DUT = deembedsparams (S_measuredBJT S_leftpad S_rightpad);

在Z Smith®图表上绘制测量和去嵌入的S11参数

使用smithplot函数绘制测量的和去嵌入的S11参数。

图hs = smithplot(S_measuredBJT,1,1);持有在；smithplot hs (S_DUT 1 1)。ColorOrder = [1 0 0;0 0 1);海关。LegendLabels = {“测量S11”，“De-Embedded S11”}；

在Z Smith图上绘制测量和去嵌入的S22参数

使用smithplot函数绘制测量的和去嵌入的S22参数。

图保存从；smithplot (S_measuredBJT 2 2)在；smithplot(S_DUT,2,2) hs = smithplot(“gco”）;海关。ColorOrder = [1 0 0;0 0 1);海关。LegendLabels = {“测量S22”，“De-Embedded S22”}；

绘制测量和去嵌入S21参数的分贝

使用rfplot函数绘制测量的和去嵌入的S21参数。

图保存从；h1 = rfplot (S_measuredBJT 2 1);持有在；h2 = rfplot (S_DUT 2 1);传奇(h1, h2, {“测量S_{21}”，“De-Embedded S_{21}”})；

$图中包含一个axes对象。坐标轴对象包含两个line类型的对象。这些对象表示Measured S_{21}， De-Embedded S_{21}。$